產品中心
LED落射熒光顯微鏡
儀器簡介
L2801 LED落射熒光顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念， 配置無放大率色差的無限遠平場消色差熒光物鏡和大視野目鏡,光學系統成像清晰。
100-240V 50/60Hz 寬電壓適配器供電，連接方便，使用安全；通過推桿可輕松切換明場，熒光觀察；可通過外置蓄電電池模塊供電，確保LED熒光觀察連續工作8小時以上；多波段輕松切換，可進行后期合成。
100-240V 50/60Hz 寬電壓適配器供電，連接方便，使用安全；通過推桿可輕松切換明場，熒光觀察；可通過外置蓄電電池模塊供電，確保LED熒光觀察連續工作8小時以上；多波段輕松切換，可進行后期合成。
產品屬性
- 放大倍數：：40X~1000X
- 透射光源：：3W高亮白光LED
- 落射光源：：5W高亮單色LED
倒置生物顯微鏡XDS-5
儀器簡介
XDS-5型倒置顯微鏡是一種倒置型生物顯微鏡，采用優良的無限遠光學系統，可提供卓越的光學性能。流線型的設計理念，緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。超長工作距離聚光系統可對高培養皿或圓筒狀燒瓶進行無沾染培養細胞觀察，照明系統充分考慮散熱性與安全性，人機工程學設計理念，使操作更方便舒適安全，空間更廣闊。相襯裝置可附加在光路中，以實現相襯顯微觀察。本儀器可對細胞組織，透明液態組織進行顯微觀察，也可對培養皿中的培養組織進行動態顯微觀察，可應用于科研院所、高等院校、醫療衛生、檢驗檢疫、農牧乳業等部門。
產品屬性
- 放大倍數：100X~400X
- 照明系統：9W LED 照明器
- 產品型號：XDS-5
偏光顯微鏡XPL-2600
儀器簡介
XPL-2600透反射偏光顯微鏡主要用于鑒別具有雙折射特性的物質，是藥理學、地質學和機械、冶金等部門用來研究結晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。產品配置無應力平場消色差物鏡與大視野目鏡，高精度偏光載物臺，優良的偏振觀察附件等。可在透射偏光狀態下獲得良好的顯微圖像，儀器機械性能優良，觀察舒適，操作方便，是廠礦企業、科研院所進行檢測、研究與教學的理想儀器。
產品屬性
- 產品型號：XPL-2600
- 放大倍數：50X~600X
- 光源：1W LED燈，亮度可調
全自動表界面張力儀KF100
儀器簡介
全自動表界面張力儀KF100功能多樣，可以全自動測量表面和界面張力。KF100提供了諸多擴展模塊來拓展儀器的應用范圍, 用于測定表面和界面的各種特性，大大提高了其使用的靈活性。用標準方法來測量液體的表面和界面張力。測量溫度控制范圍從-10到300 °C，可以滿足實際測量需要。測樣空間寬敞，有利于樣品方便的處理。KF100測試結果準確、快速、穩定，深受用戶好評！
產品屬性
- 品牌：貝拓
- 型號：KF100
- 產地：廣東
- 價格：面議
農殘儀光譜校準系統 PRC100
儀器簡介
在2019年發布的針對農藥殘留檢測儀校準規范中，需要使用光纖光譜儀對農殘儀各個通道的峰值波長進行測試，計算波長誤差。貝拓科學為農殘儀的波長校準提供了成套的解決方案，通過使用高性能的光纖光譜儀及完美匹配農殘儀光路專用的光纖探頭，可以實現對農殘儀校準的快速測量。
產品屬性
- 光譜范圍：180-850nm
- 光譜分辨率：：1.9nm@50μm狹縫（可選更高的分辨率）
- 熱穩定性：：0.027 nm/℃
全自動的超痕量六價鉻分析儀
儀器簡介
超痕量六價鉻分析儀采用柱后衍生色譜法，即：樣品中的六價鉻經過離子色譜分離后與衍生試劑（二苯卡巴肼）混合，利用六價鉻具有強氧化性，在酸性環境下氧化二苯卡巴肼并且絡合成紫紅色的絡合物，在540nm處測定它的光吸收。超痕量六價鉻分析儀在業界中首先采用雙離子色譜泵系統，即柱后衍生泵也是高性能的離子色譜泵，從而降低了輸液脈沖、降低檢出限；專用的PDA檢測器，大幅度提高靈敏度和抗干擾能力。
產品屬性
- 品牌：貝拓科學
- 產地：中國
- 型號：CR6
手持拉曼光譜儀PTRam785
儀器簡介
手持拉曼光譜儀PTRam785應用于公安安全、毒品快檢、食品安全、珠寶鑒定、原料藥檢測、生物醫療、地質地礦等多個領域；集自動校準、檢測、圖譜處理、數據庫檢索和識別于一體，操作簡便快速，易于攜帶；能夠準確的對物質成分進行快速檢測分析。
產品屬性
- 型號：PTRam785
顯微激光拉曼光譜儀TeachRam
儀器簡介
TeachRam是整體化設計的785nm激光顯微拉曼光譜儀，結合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優點，同時克服了光纖耦合光損失過大的問題，利用高性能小型光譜儀就可以獲得高靈敏度。TeachRam具備對微小區域實時成像及拉曼光譜采集的能力。
產品屬性
- 品牌：貝拓科學
- 型號：CVRam Edu
- 產地：中國廣東
- 價格：面議
光學薄膜厚儀Delta系列
儀器簡介
Delta薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值
產品屬性
- 產地：中國
- 品牌：貝拓科學
- 波長范圍：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
儀器簡介
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產品屬性
- 品牌：貝拓
- 產地：廣東
- 波長范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm