儀器簡介

XRD的全稱是X-Ray Diffraction，即X射線衍射。這是一種通過對粉末、單晶或多晶體等塊體檢測材料等樣品進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息，是目前研究物質的物相和晶體結構最有力的方法。

臺式多晶X射線衍射儀是探測晶體材料物質結構的分析儀器，可以對晶體材料物質進行包括定性定量功能在內的多種分析應用，是材料分析領域重要技術手段。臺式多晶X射線衍射儀在自然科學和技術科學中的應用范圍遍及廣泛領域，在諸多以材料科學為基礎的眾多學科、工業行業中都有重要的應用，是理工科院校和涉及材料研究、生產工藝部門、廠礦實驗室的重要不可或缺的大型分析儀器設備。本產品利用X射線照射晶體物質產生X射線衍射的原理，采用準聚焦設計光路來實現對被照射樣品的衍射幀收集，進而轉化成標準衍射圖譜做定性定量分析。

儀器特點

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光子計數X射線探測器

面陣型光子計數半導體探測器??

高靈敏，可實現單光子計數 ?

動態范圍大 ?

雙閾值

抗強輻射長時照射，長壽命

大角度弧形探測器

同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時收集y角度信息
探測器至樣品距離：150mm
多片探測器全角度無縫覆蓋

固定測角儀系統??

同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像??

2D成像，同時收集y角度信息

支持多種數據采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜

型號參數